Utz B., Kraemer H.-P., Neumueller H.-W., Schmidt W.(wolfgang.schmidt@siemens.com), Wacker B., Ahlf G., Hartig R.(reiner.hartig@siemens.com)
Ключевые слова: FCL resistive, HTS, YBCO, films, substrate sapphire, meander, nitrogen liquid , voltage waveforms, resistance, time evolution, thermal performance, quench current, test results, dc performance, power equipment
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.